National Instruments organise le 5ème Automated Test Summit, événement virtuel mondial, le 5 juin 2008
08/05/2008Ce rendez vous mondial sur internet rassemblera des acteurs majeurs du monde du test, pour partager leur expérience en matière de réduction des coûts notamment
National Instruments annonce le cinquième Automated Test Summit, un événement annuel, en ligne sur Internet le 5 juin 2008. Composé de sessions techniques sur les tendances et les nouveaux défis du test automatisé, ce rendez-vous mondial est organisé de façon à être adapté aux horaires de tous les continents, et de permettre aux participants de discuter avec des experts dans différentes langues.
Accessible gratuitement, en restant confortablement assis devant son ordinateur, cet événement se déroulera tout le long de la journée. Les participants pourront assister aux présentations stratégiques (keynotes) et aux conférences techniques, participer à des forums en direct, sous la forme de Questions-Réponses, et interagir avec des fournisseurs dans la zone d’exposition virtuelle. L’équilibre des conférences techniques couplées à l’offre la plus récente que présentent les exposants assure à tous les participants un forum de valeur... sans qu'ils aient à quitter leur bureau."
"L’Automated Test Summit de NI rassemble en temps réel une audience globale qui couvre toutes les industries concernées par le test électronique," déclare Jean-Yves Allard, Vice-Président R&D chez Averna. "En tant qu’exposant, nous interagissons en direct et en même temps avec des visiteurs de notre stand situés aux quatre coins du monde.
National Instruments est heureux de travailler avec des leaders technologiques pour présenter les toutes dernières stratégies et technologies en matière de test, permettant de relever les défis auxquels font face les ingénieurs de test et les fabricants de produits électroniques", souligne Francis Griffiths, Vice-Président des Ventes en Europe chez NI. "Pour rendre cet événement plus accessible aux ingénieurs dont l’emploi du temps est toujours très chargé, NI a décidé de l’organiser en ligne pour leur permettre de découvrir, dans le confort de leur bureau, les meilleures pratiques en développement de test."
Les représentants d’acteurs majeurs du test et de la mesure, comme Averna, Cal-Bay, Intel, Microsoft et Tektronix, partageront leurs savoir-faire techniques et leurs expériences lors de cet événement. Mike Santori, Responsable Business et Technologies chez NI, ouvrira la journée avec un keynote intitulé "Optimizing Efficiency". Les sessions de conférences techniques traiteront des sujets suivants :
• Réduire les coûts de développement de systèmes
• Dernières tendances en conception de matériels
• Étendre la durée de vie des systèmes de test
• Table ronde sur l’ingénierie de test
