Nouveau micromètre à LED haute performance optoCONTROL 2700
03/06/2024
Ce micromètre à LED offre une précision inégalée pour les tâches de mesure exigeantes et de haute précision comme la mesure de diamètres, de fentes, d'arêtes et de segments dans les processus de production industriels
Ce micromètre est capable de founir des résultats extrêmement précis, même sur des objets à mesurer transparents et de réaliser des mesures précises de petits objets à partir de 0,3 mm
L'optoCONTROL 2700 dispose d'une correction d'inclinaison en temps réel de l'objet à mesurer, ce qui rend inutile un alignement exact de l'objet à mesurer. La configuration intégrale du micromètre à LED s'effectue via l'interface web intégrée.
Son optique télécentrique optimise nettement la précision de mesure. L'objet à mesurer est éclairé de manière uniforme. De plus, la correction de l'inclinaison en temps réel assure des résultats de mesure extrêmement précis, même lorsque les objets à mesurer sont placés de biais ou inclinés. Un alignement orthogonal de l'objet à mesurer n'est donc pas nécessaire.
En plus d'une mesure précise, la fonction intégrée de détection de l'encrassement offre une solution proactive pour détecter la présence d'impuretés ou de corps étrangers sur la surface de mesure. Cette fonction contribue à éviter les erreurs de mesure et à porter la qualité des résultats au plus haut niveau.
Grâce au contrôleur intégré, aucun appareil de commande externe n'est nécessaire et le temps de câblage et de montage est réduit au minimum.
La configuration intégrale du micromètre à LED s'effectue via l'interface web intégrée. L'interface web est appelée via l'interface Ethernet et permet de régler rapidement et facilement, par exemple, la moyenne ou la fréquence de mesure et offre de nombreuses possibilités de paramétrage pour chaque tâche de mesure.
Six préréglages permettent une configuration rapide et facile en fonction de la tâche de mesure. L'interface web propose également une image en noir et blanc évolutive pour faciliter l'alignement. Il est donc désormais possible de positionner graphiquement le micromètre ou l'objet à mesurer de manière optimale.
Principales caractéristiques de mesure:
- Plage de mesure : 40 mm
- Résolution submicrométrique de 10 nm
- Linéarité ≤ 1 µm
- Temps d'exposition : 8,5 µm
