JTAG Technologies lance des testeurs économiques d’E/S programmables multitensions

JTAG Technologies lance son nouveau module compact PIOS (Pod I/O Scan) JT 2149/MPV, offrant un accès de test d’entrées-sorties (E/S) numériques pour les cartes nécessitant des stimuli d’E/S externes.

Le module PIOS JT 2149/MPV est conçu pour s’installer dans l’émetteur/récepteur QuadPod™ standard de JTAG Technologies, utilisé par les célèbres contrôleurs matériels boundary-scan/JTAG de la série DataBlaster. Connecté à une carte de circuits via un connecteur de bord ou des broches d’interface de test, le module optime les tests d’interconnexion habituels en stimulant les connexions de la carte en synchronisation avec les composants boundary-scan natifs. De plus, le module PIOS intègre une logique programmable ainsi qu’un oscillateur qui peut être lui aussi programmé pour l’exécution de tests fonctionnels ou à base de séquences plus spécifiques.

Les modules de test PIOS JT 2149/MPV apportent une solution optimale à la fois pour les tests boundary scan et fonctionnels. Par exemple, une carte cible peut contenir des éléments, tels que des connecteurs de bord et des clusters logiques non boundary-scan, qui ne sont pas directement accessibles par boundary-scan. En pareils cas, la testabilité globale de la carte est compromise et certains défauts de fabrication risquent de passer inaperçus. Les modules PIOS résolvent ce problème en étendant la couverture boundary-scan pour y inclure le test des connecteurs de bord et en procurant des points de test supplémentaires internes sur la carte afin d’améliorer la détection des défauts.

Tandis que le module occupe un seul port TAP (Test Access Port) sur le QuadPod™, le système continue d’offrir quatre ports TAP indépendants pour la carte cible sous test, via une option « stream-through ». L’échange à chaud des cartes cibles est possible grâce à la fonction automatique de mise hors tension entre tests du QuadPod™.

La totale rétrocompatibilité avec les autres systèmes de test d’E/S boundary-scan JTAG est assurée par la simulation des anciens composants DIOS. En outre, les seuils de sortie comme d’entrée peuvent être programmés pour des tensions de 1,5 V, 1,8 V, 2,5 V et 3,3 V, ce qui se prête parfaitement au test des familles modernes de circuits logiques basse tension. Les canaux d’E/S sont regroupés en blocs de 16. Afin de réduire la longueur de la chaîne boundary-scan et d’améliorer l’efficacité des tests, il est possible de contourner un nombre quelconque de groupes de 16 canaux.

Les canaux sélectionnés peuvent être interfacés via un câblage spécial avec la carte sous test (faibles volumes) ou via des matrices analogiques de type « lit à clous » (volumes élevés). Les canaux d’E/S sont programmables séparément en tant que signaux d’entrée, de sortie, bidirectionnels ou à trois états.